产品描述
Fimpetrics Profilm3d和Profilm3d-200白色光干涉仪通过亚纳米级分辨率产生高分辨率测量表面形貌。该工具支持垂直扫描和相移干涉测量法。使用TotalFocus技术，Profilm3d提供令人惊叹的3D自然彩色图像，每个像素焦点。
在Profilm3D测量技术中，测量的垂直分辨率独立于物镜的数值孔径，可以实现大视场的高分辨率测量。通过将多个视场拼接成单个测量，可以进一步增加测量面积。Profilm3D还具有简单、创新的用户界面和自动化功能，以支持从研发到生产的广泛工作环境。
我们的profilm.®软件套件具有基于尖端云的ProfilMonline®Web服务，Android和IOS移动应用程序，以及高级Profilm Desktop软件，提供灵活的数据存储，可视化和分析解决方案。
特征
- 用于测量从纳米到毫米的表面特征的垂直扫描和相移干涉测量
- 自动化X-Y舞台，旅行范围长，非常适合绘图和缝合扫描
- 自动聚焦，具有行业领先的长压电行程范围，可扫描高度距离大的多个表面
- 直观的软件套件，包括先进的Profilm桌面，基于云的ProfilMonline和移动应用程序，用于灵活的数据存储，可视化和分析
- TotalFocus成像，导致每种像素令人瞩目的彩色图像，即使在高度变化的曲面上比物镜的焦点大的表面
应用程序
- 步高：3D从纳米到毫米的步高
- 纹理：3D粗糙和波纹
- 形式：3D弓形和形状
- 真颜色：3D表面形貌的TotalFocus图像
- 边缘滚动：3D边缘轮廓测量
- 缺陷评审:三维缺陷表面形貌
行业
- 大学，研究实验室和机构
- 硅和化合物半导体
- 精密光学和力学
- 医疗设备
- LED:发光二极管
- 电力设备
- MEMS：微机电系统
- 数据存储
- 汽车
- 等等：与我们联系您的要求
