光学轮廓计
光学轮廓计
Profilm3D®和ζ™️️光学轮廓计提供3D表面形貌测量的快速，简单，非接触式解决方案。我们的光学分析仪组合支持各种测量技术，包括白光干涉测量，真彩色成像和ZDOT™共焦网格结构照明。我们可以帮助指导您正确的分析器解决方案，以满足您的独特需求。
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KLA Instruments™光学轮廓仪产品组合的历史是一个来自不同起源的创新故事。ADE推出了MicroXAM干涉仪。Zeta Instruments开发了ZDot和多模光学轮廓仪。Filmetrics®引进了新型通用白光干涉仪。这些产品聚集金博宝188亚洲体育app在一起进入了多样化的光学轮廓计，现在在KLA仪器品牌下统一。了解有关我们丰富的创新历史以及我们的工具如何继续发展以支持您的表面计量要求。
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仪器
对于行业专家、学者和其他创新者来说，KLA Instruments提供可信的测量，实现了世界上突破性的技术。
缺陷检查
的烛光®复合半导体和硬盘驱动器的检测系统可以帮助工程师在跨越通信和网络，LED，电源设备，传感，太阳能，光伏和数据存储的应用中实现显着的产量和过程改进。
纳宁德斯
KLA Instruments纳米压头组合提供了精确、可靠和可重复的测试，以在广泛的测试条件下表征材料的静态和动态力学性能。
薄层电阻映射器
的Filmetrics®基于超过45年的电阻测量创新和技术专长，薄板电阻测绘仪器已经开发出来。
手写笔分析器
的Alpha-Step®, Tencor™P系列和HRP®触控笔功能使高精度，2D和3D表面计量能够实现。手写笔分析器测量行业领先的稳定性和可靠性的步进高度，粗糙度，弓和压力，以及您的研发和生产计量要求。
薄膜反射计
Filmetrics薄膜反射计可在数秒内测量透明薄膜的厚度和折射率，具有行业领先的精度。