光学轮廓计

光学轮廓计

Profilm3D®和ζ™️️光学轮廓计提供3D表面形貌测量的快速,简单,非接触式解决方案。我们的光学分析仪组合支持各种测量技术,包括白光干涉测量,真彩色成像和ZDOT共焦网格结构照明。我们可以帮助指导您正确的分析器解决方案,以满足您的独特需求。

即将举行的活动

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8月10日,2021年上午10:00太平洋时间(美国和加拿大)

哪种光学计量技术选择?

太平洋时间9月8日上午09:00(美国和加拿大)

纳米划痕测试和三维轮廓术理论介绍

太平洋时间9月14日上午10:00(美国和加拿大)

用Tencor Stylus profiler测量软材料

10月19日,2021年上午10:00(美国和加拿大)

通过表面形貌的玻璃测量

太平洋时间2021年10月20日上午09:00(美国和加拿大)

薄层电阻测量的点尺寸和横向分辨率

11月9日,2021年10:00太平洋时间(美国和加拿大)

多接口的Profilm3D

太平洋时间2021年12月8日上午09:00(美国和加拿大)

微电子显示涂层的纳米划痕与测试后3D轮廓术

Profilm3D

Profilm3D是一种负担得起的,紧凑的台式光学轮廓仪,利用白光干涉测量轻松,非接触测量三维台阶高度,粗糙度和其他表面形貌。

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ζ-20

Zeta-20台式光学型仪采用专利的ZDOT技术和柔性多模光学器件,用于测量3D表面形貌,薄膜厚度和自动缺陷检测。

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ζ-300年

基于Zeta-20经过验证的性能,Zeta-300光学轮廓仪包括集成的振动隔离和支持更大的样品尺寸,以满足您的研发和生产需求。

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ζ-388

Zeta-388光学分析器将Zeta-300系统与盒式磁带晶圆处理,图案识别,自动化数据分析和秒/宝石相结合,以支持生产测量要求。

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在找手写表面轮廓仪吗?

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时间轴上的创新

KLA Instruments™光学轮廓仪产品组合的历史是一个来自不同起源的创新故事。ADE推出了MicroXAM干涉仪。Zeta Instruments开发了ZDot和多模光学轮廓仪。Filmetrics®引进了新型通用白光干涉仪。这些产品聚集金博宝188亚洲体育app在一起进入了多样化的光学轮廓计,现在在KLA仪器品牌下统一。了解有关我们丰富的创新历史以及我们的工具如何继续发展以支持您的表面计量要求。

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解放军的仪器标志

仪器

对于行业专家、学者和其他创新者来说,KLA Instruments提供可信的测量,实现了世界上突破性的技术。

缺陷检查

的烛光®复合半导体和硬盘驱动器的检测系统可以帮助工程师在跨越通信和网络,LED,电源设备,传感,太阳能,光伏和数据存储的应用中实现显着的产量和过程改进。

纳宁德斯

KLA Instruments纳米压头组合提供了精确、可靠和可重复的测试,以在广泛的测试条件下表征材料的静态和动态力学性能。

薄层电阻映射器

的Filmetrics®基于超过45年的电阻测量创新和技术专长,薄板电阻测绘仪器已经开发出来。

手写笔分析器

的Alpha-Step®, TencorP系列和HRP®触控笔功能使高精度,2D和3D表面计量能够实现。手写笔分析器测量行业领先的稳定性和可靠性的步进高度,粗糙度,弓和压力,以及您的研发和生产计量要求。

薄膜反射计

Filmetrics薄膜反射计可在数秒内测量透明薄膜的厚度和折射率,具有行业领先的精度。

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