产品描述
纳米压头G200X提供了一个易于使用的纳米机械测试,快速提供准确,定量的结果。G200X系统包括我们高性能的运动系统,最大的样品安装系统和我们的高分辨率光学显微镜。我们的InView软件、InQuest控制器和InForce执行器在整个产品系列中提供了相同的高性能结果。G200X系统选项包括连续刚度测量(CSM),扫描探针显微镜,划痕测试,频率扫描,电测量,高速测试和冲击测试。
特征
- 电磁执行器实现了高动态范围的力和位移
- 高分辨率光学显微镜和精密XYZ运动系统,用于观察,定位和瞄准样品。
- 易于安装的样品托盘与多个样品位置,高通量测试。
- 用于SPM成像、划痕测试、高温纳米压痕测量、动态测试(CSM)和高速测试的压痕测试之外的模块选项。
- 直观的界面,快速测试设置;只需点击几下鼠标,即可更改测试参数
- 实时实验控制,易于测试协议开发和测试设置。
- 完整的InView软件套件,包括ReviewData和InFocus,用于分析数据和创建报告。
- 屡获殊荣,高速测试材料属性图和增加的统计信心。
- 具有100kHz的数据采集速率和20µs的时间常数。
应用程序
- 高速硬度和模量测量(Oliver-Pharr)
- 高速材质属性贴图
- ISO 14577硬度测试
- 界面附着力测量
- 断裂韧性测量
- 粘弹性特性测量包括tan delta,存储和损耗模量
- 扫描探针显微镜(3D成像)
- 定量划痕和磨损试验
- 高温纳米压痕试验
行业
- 大学、研究实验室和研究所
- 半导体行业
- PVD/CVD硬质涂层(DLC, TiN)
- MEMS:微机电系统/纳米级通用测试
- 陶瓷和玻璃
- 金属和合金
- 药品
- 涂料和油漆
- 复合材料
- 电池和储能
- 汽车和航空航天