产品描述
Candela 7100系列先进的缺陷检测和分类系统专为硬盘驱动器基板和介质而设计。优化高功率的双波长激光器针对感兴趣的挑战（DOI）挑战的当前缺陷进行了优化，并且多通道散射探测器为全系列基板上的亚微米坑，凸块，颗粒和埋地缺陷提供了增强的灵敏度。7100系列的能力和稳定性可确保一个平台可用于多个过程控制应用点。
特性
- 用完整的磁盘缺陷图检测和分类亚微米凹坑，凸点，粒子，金属和玻璃上的埋没缺陷，基片和介质
- 通过完整的磁盘映射提供更快的结果时间，具有分类缺陷和可操作的数据输出
- 减少对离线检测技术（AFM，SEM，TEM等）的依赖导致整体所有权成本降低
- 有用手册（7110）或全自动（7140）配置
用例
- 缺陷检查
- 划痕和山脊检查
- 粒子和染色检查
- 激光纹理分析
- 碳均匀性分析和碳无效检查
- 记录层和软底层映射
- 润滑油均匀性分析
- 磁性成像
选项
- 精密钻石抄写员
- 高灵敏度(HS)选择
- 磁性成像
- 离线软件大型表格因子软件许可证
